電阻率與膜電阻

導(dǎo)體的電阻值決定于導(dǎo)體的材料性質(zhì)和幾何尺寸。對(duì)于截面積恒定的導(dǎo)休，其電阻值與長度l成正比，與截面積S成反比R=pl/s (歐）

式中：l——導(dǎo)體的長度，單位為厘米,

S—導(dǎo)體的截面積，單位為厘米2;

p——與材料特性有關(guān)的常數(shù)，稱為電阻率，單位為歐?厘.米。

電阻韋在數(shù)依上等于長1厘米，截面積為1厘米2的導(dǎo)體所具有的電阻值，單位為歐?厘米。電阻率的倒數(shù)稱為電導(dǎo)率，用CT表示。單位為歐-1?厘米-1。電阻率是表征材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)，電阻器所用材料，一般應(yīng)選擇電阻率較高，性能穩(wěn)定的材料。純金屬材料是良導(dǎo)體，電阻率很低，通常在10-5?10-8歐?厘米左右，而且溫度系數(shù)較大，因此純金屬不宜用來制造電阻器。用兩種或幾種金屬制成的電阻合金具有較高的電阻率，約在1〇_4歐?厘米左右，而且溫度系數(shù)也較低，可用來制造性能優(yōu)良的電阻器。非線繞電阻器采用分散性導(dǎo)體（如炭黑、石墨）和薄膜材料（如熱分解碳膜、金屬膜），它們的電阻率約在10-2?10-3歐?厘米范圍。半導(dǎo)體材料的電阻率較高，但由于半導(dǎo)休受外界光、熱以及其它物理因素的作用較為敏感，因此一般不宜用來制造性能穩(wěn)定的電阻器，而適合于制造敏感電阻器。

對(duì)于薄膜材料，由于厚度非常小，厚度的精確測(cè)量有一定困難，而且這時(shí)導(dǎo)體的電阻率已不再是一個(gè)常數(shù)。因?yàn)檫@時(shí)薄膜不再是密實(shí)和完整的導(dǎo)體，薄膜具有一定的不連續(xù)性和凹凸不平。在這種情況下，導(dǎo)體的電阻率與厚度有密切的關(guān)系，通常是膜層越薄，電阻率也越大。因此，對(duì)于薄膜材料一般不采用電阻率，而釆用膜電阻來表征薄膜的特性。

膜電阻等于長寬相等的一塊正方形薄膜，當(dāng)電流從一邊流向其對(duì)邊吋所具有的電阻值，因此有方阻的名稱。

用四探針法可以直接在薄膜上測(cè)量其膜電阻。四個(gè)探針在一條直線上，間距相等，約為1亳米。外面的兩個(gè)探針是電流探針，里面的兩個(gè)是電壓探針。